مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - VUV reflectance measurements and optical constants of SiC thin films

Title of article :

VUV reflectance measurements and optical constants of SiC thin films

Author/Authors :

P. Nicolosi، نويسنده , , D. Garoli، نويسنده , , M.-G. Pelizzo، نويسنده , , V. Rigato، نويسنده , , A. Patelli and F. Rigato، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2005

Pages :

From page :

987

To page :

992

Keywords :

VUV , Optical constants , Optical coatings , SiC

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Serial Year :

2005

Journal title :

JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA

Record number :

380451

Link To Document :