Title of article
LEEM and XPEEM studies of C-AFM induced surface modifications of thermally grown SiO2
Author/Authors
S. Heun and M. Kiskinova، نويسنده , , S. Kremmer، نويسنده , , D. Ercolani، نويسنده , , H. Wurmbauer and C. Teichert، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages
4
From page
1163
To page
1166
Keywords
LEEM , SiO2 , C-AFM , XPEEM
Journal title
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Serial Year
2005
Journal title
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY & RELATED PHENOMENA
Record number
380489
Link To Document