Failure dynamics of the IGBT during turn-off for unclamped inductive loading conditions

Chih-Chieh Shen، نويسنده , , Hefner، نويسنده , , A.R.، نويسنده , , Jr.، نويسنده , , Berning، نويسنده , , D.W.، نويسنده , , Bernstein، نويسنده , , J.B.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2000

11

614

624

insulated gate bipolar transistor , modeling , Nondestructive testing , reverse-bias safe operation area. , avalanche , current constriction , Filament , Failure

IEEE Transactions on Industry Applications

2000

IEEE Transactions on Industry Applications

380980