Title of article :
Power loss and junction temperature analysis of power semiconductor devices
Author/Authors :
Dewei Xu، نويسنده , , Haiwei Lu، نويسنده , , Lipei Huang، نويسنده , , Azuma، نويسنده , , S.، نويسنده , , Kimata، نويسنده , , M.، نويسنده , , Uchida، نويسنده , , R.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2002
Pages :
6
From page :
1426
To page :
1431
Keywords :
junction temperature , insulated gate bipolar transistor , power loss.
Journal title :
IEEE Transactions on Industry Applications
Serial Year :
2002
Journal title :
IEEE Transactions on Industry Applications
Record number :
381503
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=381503
