Micro-electromechanical Systems for Nano-science

Nicolas F. de. Rooij and U. Staufer ، نويسنده , , C. Beuret، نويسنده , , S. Gautsch، نويسنده , , W. Noell، نويسنده , , G. Schuurmann، نويسنده , , C. Stebler ، نويسنده , , N.F. de Rooij ، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2000

6

413

418

scanning probe microscopy , dust particles , MEMS , electron-beam lithography , space applications

Journal of Nanoparticle Research

2000

Journal of Nanoparticle Research

389995