Title of article
Breakdown of universal mobility curves in sub-100-nm MOSFETs
Author/Authors
Kaya، نويسنده , , S.، نويسنده , , Asenov، نويسنده , , A.، نويسنده , , Roy، نويسنده , , S.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2002
Pages
5
From page
260
To page
264
Keywords
Brownian dynamics , Device simulation , interfaceroughness scattering , universal mobility. , MOSFET
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year
2002
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number
398319
Link To Document