Title of article :
Ultrashort SONOS memories
Author/Authors :
Moon Kyung Kim، نويسنده , , Chae، نويسنده , , S.D.، نويسنده , , Chae، نويسنده , , H.S.، نويسنده , , Kim، نويسنده , , J.H.، نويسنده , , Jeong، نويسنده , , Y.S.، نويسنده , , Jo-Won Lee ، نويسنده , , Silva، نويسنده , , H.، نويسنده , , Tiwari، نويسنده , , S.، نويسنده , , Chung Woo Kim، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2004
Pages :
8
From page :
417
To page :
424
Keywords :
CMOS device scaling , nonvolatile memory , scaling limits , silicon–oxide–nitride–oxide–silicon (SONOS) memory. , silicon-on-insulator (SOI) technology
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2004
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398441
Link To Document :
بازگشت