Author/Authors :
IEEE
Mehdi B. Tahoori، نويسنده , , M.B.، نويسنده , , Jing Huang، نويسنده , , Momenzadeh، A. نويسنده , , M.، نويسنده , , Lombardi، نويسنده , , F.، نويسنده ,
Keywords :
Defect characterization , NANOTECHNOLOGY , testing. , quantum dot cellular automata (QCA) , design-for-testability
