Title of article :
Modeling hysteresis phenomena in nanotube field-effect transistors
Author/Authors :
Robert-Peillard، نويسنده , , A.، نويسنده , , Rotkin، نويسنده , , S.V.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages :
5
From page :
284
To page :
288
Keywords :
Electrostatics of one-dimensional (1-D) systems , Field-effect transistors (FETs) , hysteresis , Nanotechnology , NT transistors , nanotube(NT) nonvolatile memory , tunneling.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2005
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398488
Link To Document :
بازگشت