Title of article
Impact of single charge trapping in nano-MOSFETs-electrostatics versus transport effects
Author/Authors
Alexander، نويسنده , , C.L.، نويسنده , , Brown، نويسنده , , A.R.، نويسنده , , Watling، نويسنده , , J.R.، نويسنده , , Asenov، نويسنده , , A.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages
6
From page
339
To page
344
Keywords
impurity scattering , MOSFETs , random telegraph signals. , Drift diffusion (DD) , MonteCarlo (MC)
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year
2005
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number
398497
Link To Document