Title of article :
Majority multiplexing-economical redundant fault-tolerant designs for nanoarchitectures
Author/Authors :
Roy، نويسنده , , S.، نويسنده , , Beiu، Roxana M. نويسنده , , V.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Keywords :
Fault/defect tolerance , majority gates , nanoarchitectures , von Neumann multiplexing.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
