Author/Authors :
Tsutsui، نويسنده , , G.، نويسنده , , Hideo Nagumo، نويسنده , , T.، نويسنده , , Hiramoto، نويسنده , , T.، نويسنده ,
Keywords :
ultrathin body SOI MOSFET , Body effect factor , quantum confinement effects , threshold voltage , variablethreshold CMOS (VTCMOS).