Author/Authors :
Moon Kyung Kim، نويسنده , , Chae، نويسنده , , S.D.، نويسنده , , Chae، نويسنده , , H.S.، نويسنده , , Kim، نويسنده , , J.H.، نويسنده , , Jeong، نويسنده , , Y.S.، نويسنده , , Jo-Won Lee
، نويسنده , , Silva، نويسنده , , H.، نويسنده , , Tiwari، نويسنده , , S.، نويسنده , , Chung Woo Kim، نويسنده ,
Keywords :
scaling limits , silicon-on-insulator (SOI) technology , nonvolatile memory , silicon–oxide–nitride–oxide–silicon (SONOS) memory. , CMOS device scaling