Title of article
On the evaluation of scaling of QCA devices in the presence of defects at manufacturing
Author/Authors
Momenzadeh، A. نويسنده , , M.، نويسنده , , Jing Huang، نويسنده , , IEEE Mehdi B. Tahoori، نويسنده , , M.B.، نويسنده , , Lombardi، نويسنده , , F.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 2005
Pages
4
From page
740
To page
743
Keywords
Defect tolerance , quantum-dot cellular automata(QCA) , scaling.
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year
2005
Journal title
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number
398795
Link To Document