Title of article :
Fully integrated SONOS flash memory cell array with BT (body tied)-FinFET structure
Author/Authors :
Suk-Kang Sung، نويسنده , , Tae Yong Kim، نويسنده , , Eun Suk Cho، نويسنده , , Hye Jin Cho، نويسنده , , Byung-Yong Choi، نويسنده , , Chang-Woo Oh، نويسنده , , Byung-Kyu Cho، نويسنده , , Choong-Ho Lee، نويسنده , , Donggun Park، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Pages :
6
From page :
174
To page :
179
Keywords :
Erase , finFET , NOR flash , SONOS , retention , threshold voltage. , Program
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2006
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398822
Link To Document :
بازگشت