Title of article :
Analytical Models for the Performance of von Neumann Multiplexing
Author/Authors :
Roelke، نويسنده , , G.، نويسنده , , Baldwin، نويسنده , , R.، نويسنده , , Bulutoglu، نويسنده , , D.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2007
Pages :
15
From page :
75
To page :
89
Keywords :
Fault tolerance , Multiplexing , nanotechnology. , Markovprocesses , Computer architecture
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2007
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
398914
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=398914
