Precise Alignment of Single Nanowires and Fabrication of Nanoelectromechanical Switch and Other Test Structures

Qiliang Li، نويسنده , , Sang-Mo Koo، نويسنده , , Richter، نويسنده , , C.A.، نويسنده , , Edelstein، نويسنده , , M.D.، نويسنده , , W.C. Carter and J.E. Bonevich، نويسنده , , J.E.، نويسنده , , Kopanski، نويسنده , , J.J.، نويسنده , , Suehle، نويسنده , , J.S.، نويسنده , , Vogel، نويسنده , , E.M.، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2007

7

256

262

contact resistance , nanoelectromechanicalswitch , nanowire alignment , transfer length method. , SiNW FET

IEEE Transactions on Nanotechnology

2007

IEEE Transactions on Nanotechnology

398938