Title of article :
On the Reliability of Majority Gates Full Adders
Author/Authors :
Ibrahim، نويسنده , , W.، نويسنده , , Beiu، Roxana M. نويسنده , , V.، نويسنده , , H. Sulieman، نويسنده , , M.H، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2008
Pages :
12
From page :
56
To page :
67
Keywords :
probability transfer matrix , Full adders , majority gates , probability of failure , Reliability.
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Serial Year :
2008
Journal title :
IEEE Transactions on Nanotechnology
Record number :
399016
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=399016
