مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Run-Time Data-Dependent Defect Tolerance for Hybrid CMOS/Nanodevice Digital Memories

Title of article :

Run-Time Data-Dependent Defect Tolerance for Hybrid CMOS/Nanodevice Digital Memories

Author/Authors :

Sun، نويسنده , , F.، نويسنده , , Feng، نويسنده , , L.، نويسنده , , Zhang، نويسنده , , T.، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 2008

Pages :

From page :

217

To page :

222

Keywords :

CMOS , defect tolerance , digital memory , errorcontrol codes , nano device , storage capacity.

Journal title :

IEEE Transactions on Nanotechnology

Serial Year :

2008

Journal title :

IEEE Transactions on Nanotechnology

Record number :

399042

Link To Document :