The structural ordering of thin silicon films at the amorphous to nano-crystalline phase transition by GISAXS and Raman spectroscopy

D. Gracin، نويسنده , , K. Juraic، نويسنده , , A. Gajovic، نويسنده , , P. Dubcek، نويسنده , , C. Devilee، نويسنده , , H.J. Muffler، نويسنده , , W.J. Soppe، نويسنده , , Z. Crnjak-Orel and S. Bernstorff، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 2008

5

326

330

Raman spectroscopy , GISAXS , Nanocrystalline silicon

Renewable Energy

2008

Renewable Energy

422791