مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Electrical Characterization of TiSi2 Nanoscale Islands by Scanning Probe Microscopy

DocumentCode :

10398

Title :

Electrical Characterization of TiSi2 Nanoscale Islands by Scanning Probe Microscopy

Author :

Prof. J. Krim استاد مشاور , D.E. Aspnes استاد مشاور , R.M. Kolbas استاد مشاور , R.J. Nemanich Chair استاد راهنما

University :

Raleigh North carolina state university

Grade :

نامعلوم

Major :

PhD )Physics(

Number of pages :

Publish Date :

2001

Note :

Language :

انگليسي

Link To Document :