شماره ركورد :
31125
شماره مدرك :
4388058
نويسنده/تنالگان :
Sandeep K. Goel
عنوان :
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
اطلاعات نشر :
CRC Press
سال نشر :
2013
شابك :
9781439829417;9781439829424
Link To Document :
https://search.ricest.ac.ir/dl/search/defaultta.aspx?DTC=26&DC=31125
