• شماره ركورد
    47698
  • شماره مدرك
    4400553
  • نويسنده/تنالگان
    Jacopo Franco
  • عنوان

    Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications

  • اطلاعات نشر
    Springer
  • سال نشر
    2014
  • شابك
    9789400776630;9789400776623
    • Link To Document
    https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=26&DC=47698