رشد و مشخصه يابي فيلم هاي نازك نانو كريستالي سولفيد روي جاسازي شده در ماتريس سيليكا

Growth and Characterization of Nanocrystalline ZnS Thin Films Embedded in Silica Matrix

فيلم هاي نازك نانو ذرات سولفيد روي جايگزيده شده در ماتريس سيليكا با استفاده از تكنيك غوطه وري روش سل-ژل بر روي بسترهاي شيشه اي تهيه شدند. ساختار فيلم ها از طريق الگوي پراش پرتوي ايكس براي ضخامت هاي مختلف مورد مطالعه قرار گرفت و قله هاي مربوط به صفحات (101)، (210) و (211) در ضخامت 280 نانومتر مشاهده شدند كه حاكي از ساختار هگزاگونال و پلي كريستالي فيلم ها است. ميانگين اندازه دانه ها 15 نانومتر محاسبه شد كه ماهيت نانو كريستالي فيلم ها را تاييد مي كند. در دماي باز پخت ثابت 773 درجه كلوين تراگسيل اپتيكي نمونه ها با استفاده از آناليز UV - Visible براي ضخامت هاي متفاوت بررسي شد. نتايج، كاهش شفافيت با افزايش ضخامت را نشان دادند. ضريب شكست و خاموشي فيلم ها با استفاده از رهيافت كمينه سازي نامقيد نقطه گرا محاسبه شد و نتايج با مدل كوشي برازش شد..

Zinc sulphide nanoparticles embedded in silica matrix thin films have been prepared on glass substrates by the sol-gel dip-coating technique. The structure of the films was investigated by XRD analysis for different thicknesses. The observed peaks correspond to (101), (210) and (211) planes showed the formation of wurzite hexagonal phase in the film with thickness of 280 nm and the evaluated average grain size is 15 nm which confirms the nanocrystalline nature of the films. At the constant annealing temperature of 773K the transmission spectra of thin films were studied by UV-Vis spectroscopy for different film thicknesses. The results indicating reduce of transparency with the thickness. The relevant refractive index and extinction coefficient of the films were also calculated using pointwise unconstrained minimization approach (PUMA) and the resulting data were fitted by the well-known Cauchy model