بررسي خواص ساختاري لايه هاي نازك Cd1-xZnxS به روش تبخير حرارتي در خلأ

Investigation on structural properties of Cd1-xZnxS thin films prepared by thermal evaporation method in vacuum

لايه هاي Cd1-xZnxS به روش تبخير حرارتي بر روي زيرلايه هاي شيشه اي در دماي 200 درجه سانتيگراد ساخته شدند. مطالعه ساختاري و بررسي مورفولوژي نمونه ها با استفاده از ميكروسكوپ الكتروني روبشي گسيل ميدان و تحليل پراش اشعه x انجام گرديد. نتايج ميكروسكوپ الكتروني روبشي گسيل ميدان تفاوت در مورفولوژي نمونه ها را به خوبي نشان مي دهد . پارامترهايي همانند اندازه بلورك، تنش، چگالي دررفتگي با استفاده از داده هاي پراش اشعه ايكس محاسبه شدند. مشاهده گرديد كه ساختار بلوري لايه ها از نوع هگزاگونال مي باشد.

Cd1-xZnxS thin films have been deposited on glass substrates by thermal evaporation method at substrate temperature of about 200°c. The samples were analyzed using field emission scaning electron microscopy (FESEM) and X-ray diffraction (XRD) techniques. FESEM results revealed the differences in morphology of the samples. The parameters such as crystallite size, strain, dislocation density are calculated from X-Ray diffraction data. The crystal structure of Cd1-xZnxS thin films was found to be hexagonal