شماره ركورد كنفرانس

3632

عنوان مقاله

BIST-based online test approach for SRAM-based FPGAs

پديدآورندگان

Hanieh Karam ,

كليدواژه

FPGA , Internal Testing , BIST , Test Pattern Generator , LUT

كشور

ايران

نويسنده

Hadi Jahanirad

كلمات كليدي

FPGA; Internal Testing; BIST; Test Pattern Generator; LUT