شماره ركورد كنفرانس :
3767
عنوان مقاله :
بررسي تاثير تابش فرابنفش بر كاهش رشد ميكروبي پسته تازه در طي دوره انبارماني در دماي يخچالي
عنوان به زبان ديگر :
Evaluation of effect of ultraviolet radiation on the reduce of microbial growths of fresh pistachio during storage at refrigeratortemperature
پديدآورندگان :
حسيني فرشته السادات بخش مكانيك بيوسيستم، دانشكده كشاورزي، دانشگاه شهيد باهنر كرمان، كرمان، ايران؛ , اخوان حميدرضا بخش علوم و مهندسي صنايع غذايي، دانشكده كشاورزي، دانشگاه شهيد باهنر كرمان، كرمان، ايران؛ , مقصودي حسين بخش مكانيك بيوسيستم، دانشكده كشاورزي، دانشگاه شهيد باهنر كرمان، كرمان، ايران؛ , حاجي محمدي فريماني رضا بخش علوم و مهندسي صنايع غذايي، دانشكده كشاورزي، دانشگاه شهيد باهنر كرمان، كرمان، ايران؛ , بلوردي محمد بخش علوم و مهندسي صنايع غذايي، دانشكده كشاورزي، دانشگاه شهيد باهنر كرمان، كرمان، ايران
تعداد صفحه :
6
كليدواژه :
پسته تازه , تابش فرابنفش , رشد ميكروبي , ماندگاري
سال انتشار :
1396
عنوان كنفرانس :
اولين همايش ملي صنايع فرآوري محصولات كشاورزي
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
در پژوهش حاضر، نمونه هاي پسته تازه رقم اوحدي در يك سامانه پيوسته استوانه اي داراي 7 عدد لامپ UVC تحت تاثير دو سطح تابش فرابنفش (1/ 2و 5/ 4 كيلوژول/مترمربع) قرار گرفتند؛ سپس در بسته‌بندي پلي‌اتيلن ترفتالات (بدون منفذ و منفذ دار) قرار گرفتند تا در طي نگهداري در دماي 4 درجه سانتي گراد به مدت 35 روز، ارزيابي ميكروبي (شمارش كلي باكتري‌هاي مزوفيل هوازي و شمارش كپك و مخمر) در روزهاي 0، 7، 14، 21، 28 و 35 انجام شود. نتايج نشان داد كه تابش فرابنفش سبب كاهش معني دار (p 0.01) شمارش ميكروبي كل از log10 cfu g-3/42 و شمارش كپك و مخمر از log10 cfu g-1 1/66 در نمونه‌هاي كنترل به كمتر از حد تشخيص ( 1log cfu g-1) در نمونه هاي پرتودهي شده شد. همچنين در انتهاي دوره نگهداري، شمارش ميكروبي در نمونه هاي قرارگرفته در معرض تابش فرابنفش به‌صورت معني داري (p 0.05) كمتر از نمونه كنترل بود. جمعيت ميكروبي در بسته‌بندي‌هاي بدون منفذ كمتر مشاهده شد. نتايج حاصل از مطالعه حاضر نشان داد كه تابش فرابنفش موجب كاهش رشد ميكروبي در ميوه‌ي تازه پسته مي‌شود و اين تيمار مي‌تواند به‌عنوان يك روش مناسب براي افزايش ماندگاري پسته از طريق كاهش فساد استفاده شود.
كشور :
ايران
لينک به اين مدرک :
بازگشت