اسپكتروسكوپي فوق حساس رامان تقويت يافته ي سطحي با استفاده از نانو سيم‌هاي سيليكوني لايه نشاني شده با نقره

در اين مقاله، زيرلايه­ي فوق حساس رامان تقويت يافته­ي سطحي برپايه­ي نانو سيم هاي سيليكوني لايه نشاني شده با نقره گزارش داده شده است. براي اين منظور، نانو سيم‌هاي سيليكوني با استفاده از روش بخار-مايع-جامد بر روي ويفر سيليكوني ساخته و با استفاده از روش الكترولس لايه نشاني شده است. اين روش امكان تشكيل نانوذرات نقره­ي يكنواخت و در كنارهم فشرده را فراهم مي­سازد. ابتدا اثر زمان لايه نشاني نانوذرات نقره براي دستيابي به ماكسيم فاكتور تقويت سيگنال رامان مورد بررسي قرار گرفته است. در ادامه، قابليت اين نانوساختار براي تشخيص غلظت­هاي مختلف مورد ارزيابي قرار گرفت و كمترين حد آشكارسازي 10 پيكومولار با فاكتور تقويت 9^10×1.5 بدست آمد.