شماره ركورد كنفرانس :
4415
عنوان مقاله :
راهكارهاي كاهش سالمندي در تراشه هاي قابل بازپيكربندي
پديدآورندگان :
اميدي بهزاد omidi@ce.sharif.edu دانشگاه صنعتي شريف، دانشكده‌ي كامپيوتر , رهباني نظام rohbani@ce.sharif.edu دانشگاه صنعتي شريف، دانشكده‌ي كامپيوتر , ميرعمادي سيد قاسم miremadi@sharif.edu دانشگاه صنعتي شريف، دانشكده‌ي كامپيوتر
كليدواژه :
قابليت اطمينان , سالمندي , تراشه‌هاي قابل بازپيكربندي , جدول جستجو , NBTI
عنوان كنفرانس :
نخستين كنفرانس ملي تحقيقات بين رشته اي در مهندسي كامپيوتر، برق، مكانيك و مكاترونيك
چكيده فارسي :
تراشه‌هاي قابل بازپيكربندي به دليل كارايي و انعطاف‌پذيري بالا و زمان عرضه به بازار پايين به طور گسترده در حوزه‌هاي مختلف مورد استفاده قرار مي‌گيرند. با ورود به حوزه‌ي نانو در طراحي تراشه‌هاي امروزي، چالش‌هاي جديدي در زمينه‌ي قابليت اطمينان تراشه‌ها به وجود آمده است. يكي از اين چالش‌ها اثر سالمندي و تنزل تدريجي خصوصيات ترانزيستورها است. از جمله عوامل سالمندي اثر BTI (ناپايداري حاصل از دما و باياس) است كه به صورت افزايش قدرمطلق ولتاژ آستانه‌ي ترانزيستور ظاهر مي‌شود و در تراشه‌هاي امروزي بيشترين نقش را در تخريب عملكرد مدار بازي مي‌كند. از جمله عواملي كه پديده‌ي سالمندي BTI را تشديد مي‌نمايند، روشن ماندن ترانزيستور براي مدت طولاني و دماي بالا است. دما به صورت نمايي پديده‌ي BTI را تشديد مي‌نمايد. اين دو عامل افزايش سالمندي در تراشه‌هاي قابل بازپيكربندي نظير تراشه‌هاي FPGA يافت مي‌شوند، لذا در اين تراشه‌ها راهكارهاي گوناگوني جهت مديريت سالمندي ارائه شده است. عمده‌ي اين راهكارها مبتني بر دو روش كاهش زمان استرس روي ترانزيستورها و مديريت دما در تراشه است. با توجه به اينكه تراشه‌هاي قابل بازپيكربندي انعطاف‌پذيري بالايي دارند، راهكارهايي كه جهت مديريت سالمندي آن‌ها مطرح مي‌شود نيز با ساير روش‌هاي كاهش سالمندي متفاوت است. در اين پژوهش راهكارهايي كه جهت مديريت سالمندي در تراشه‌هاي FPGA ارائه شده مورد بررسي قرار مي‌گيرد و مزايا و معايب هركدام بررسي مي‌شود.
