تحليل خمش يك درپوش كروي تحت فشار ساخته شده از مواد تابعي با وصله هاي پيزوالكتريك

Bending analysis of pressurized functionally graded spherical cap with piezoelectric patch

در اين مقاله، تحليل خمش متقارن بر اثر فشار يكنواخت خارجي بر روي يك پوسته نازك كم عمق از مواد FGM با وصله هاي پيزوالكتريكي با استفاده از تئوري پوسته هاي كم عمق ارائه شده است . هندسه مساله شامل يك لايه ميزبان از جنس FG است كه دو لايه پيزوالكتريك يكي در بالا و ديگري در پايين به آن چسبانده شده اند . لايه هاي پيزوالكتريك مدار باز هستند يعني به عنوان سنسور در اين اينجا به كار رفته اند . در لايه ميزبان كه از مواد تابعي است، تنها ضريب الاستيك ماده در راستاي ضخامت به طور پيوسته تغيير مي كند. با استفاده از روش جداسازي متغيرها، سه معادله حركت پوسته كم عمق نازك بصورت دقيق حل شده است.