توليد بردارهاي آزمون براي مدارهاي تركيبي به روش احتمالاتي

Probabilistic Test Generation for Combinational Circuits

توليد بردارهاي آزمون براي مدارهاي تركيبي با استفاده از روشهاي قطعي توليد آزمون بسيار زمانبر ميباشد. لذا يك روش مناسب براي توليد آزمون براي مدارهاي تركيبي اين است كه در مرحله اول با استفاده از يك روش تصادفي به توليد داده آزمون براي يك مدار پرداخت. سپس مي توان براي بهبود پوشش اشكال با استفاده از روشهاي قطعي توليد آزمون، بردارهاي آزمون جديدي را توليد كرده و به مجموعه بردارهاي آزمون توليد شده با روشهاي تصادفي افزود. در اين مقاله ما توليد داده آزمون به روش احتمالاتي را براي مرحله اول توليد بردارهاي آزمون پيشنهاد مي نماييم. در اين روش نمايش سيگنالها به جاي آنكه به صورت سنتي با يك سيستم عددي دو مقداري صورت گيرد، از يك سيستم احتمالاتي چهار مقداري براي نمايش مقدار سيگنالها استفاده خواهيم كرد. اين سيستم چهار مقداري به سادگي امكان نمايش و نيز پردازش سيگنالهاي داراي اشكال را فراهم مينمايد و علاوه بر اين امكان تزريق همزمان بيش از يك اشكال به مدار و توليد داده آزمون مناسب براي چندين اشكال را به صورت همزمان فراهم مي نمايد. ما از اين روش براي توليد داده آزمون براي تعدادي مدار تركيبي استفاده كرده و قابليت و كارايي اين روش را در توليد داده آزمون براي مدارهاي تركيبي نشان داده ايم.