تعيين ضرايب اپتيكي لايه هاي نازك با استفاده ازروش R,T

Determination of the Optical Constants (n , k) for Thin Film by R,T Method

در اين مقاله روش R, T ( بازتاب و عبور ) را براي محاسبه ضرايب اپتيكي مختلط (k 1 و n 1) لايه نازك فلزي انباشت شده بر روي زير لايه اي كه در بازه طول موج 400 الي 3000 نانو متر تقريبا غير جاذب است، به كار مي بريم. در اينرش برايرتو فرودي غير پلاريزه با طول موجλ ، پربندهاي (T,R) هاي ثابت را در (k1 , n1) رسم مي كنيم. (k1,n1) هاي به دست آمده از اين پربندها مقادير يكتايي ندارند . در اين مقاله روشي ارائه داده ايم كه بر اساس آن مقادير يكتايي از (k1,n1) ها را به دست اورده ايم كه با (k1,n1) هاي حاصل از روش تجربي و همچنين روش كرايمرز - كرونيگ)K,K) توافق خوبي دارند

In this paper, the technique of R ,T (Reflection, Transmition )for metallic thin film has been used to calculate the complex refractive index () in the range of 400 nm-3000 nm for the incidence light under investigation.