شماره ركورد كنفرانس :
3375
عنوان مقاله :
مطالعه اثر غلظت تيوره بر ويژگي هاي لايه هاي نازك نانوساختار SnS
عنوان به زبان ديگر :
Study of the effect of thiourea concentration on the properties of nanostructured SnS thin films
پديدآورندگان :
اكبري طاهره دانشگاه گيلان - دانشكده فيزيك , روضاتي محمد دانشگاه گيلان - دانشكده فيزيك
كليدواژه :
نانوساختار SnS , اثر غلظت تيوره , سولفيد قلع
سال انتشار :
بهمن 1393
عنوان كنفرانس :
دوازدهمين كنفرانس ماده چگال انجمن فيزيك ايران
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
در اين پروژه لايه هاي نازك سولفيد قلع نانوساختار( SnS) با روش اسپري پايروليزز روي سطوح شيشه اي تهيه شده و با روشهاي مختلف آناليزي مشخصه يابي شدند. از دماي 500°C به عنوان يك دماي بهينه استفاده شد. غلظت كلريد قلع دو آبه 0 . 1 ثابت و غلظت تيوره از 0.1 تا 0.4 تغيير داده شد. با استفاده از دستگاه Vis -UV طيف شفافيت براي لايه ها تعيين گرديد. با انجام پراش پرتو ايكس و يا استفاده از فرمول دباي شرر اندازه بلورك ها تخمين زده شد. ساختار فيلم و شكل دانه ها نيز با روش ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM) بررسي شد. با نتايج بدست آمده تاثير غلظت روي ساختار و ويژگيهاي فيزيكي و اپتيكي فيلم هاي تهيه شده بررسي گرديد. با تغيير غلظت تيوره و روند انجام واكنش بهبود مي يابد و الگوي XRD جهت يابي ترجيحي در فيلم هاي نازك SnS را نشان مي دهد. همچنين تصاوير SEM نشان مي دهد كه با افزايش غلظت تيوره و دانه ها رشد بهتري داشته و يكنواختي بهتري در سطح فيلم مشاهده مي شود.
چكيده لاتين :
In this work nano structure thin films of tin sulfide(SnS) were prepared on glass substrates using the spray pyrolysis method and with different methods of analysis were characterized. An optimum temperature of 500 ° C was used. The concentration of (SnCl2(2H2O)) was kept constant at 0.1 and concentration of( CS(NH2)2) was changed from 0.1 to 0.4 . The transparencies of the films were determined using the UV-Vis spectrophotometer. The crystallite size of the samples was estimated by X-ray diffraction technique using Debye Scherrer formula. The film structure and the morphology of the deposited layers are studied by Scanning Electron Microscopy (SEM). With these results, the effect of thiourea concentration on the structure and physical and optical of the films were investigated. By changing the concentration of thiourea, reaction process was improved. According to the XRD pattern, SnS thin films show a preferred orientation. The SEM images observed that with increasing the concentrations of thiourea , grains grow and the uniformity of the films are improved .
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
4
از صفحه :
1
تا صفحه :
4
لينک به اين مدرک :
بازگشت