شماره ركورد كنفرانس :
3375
عنوان مقاله :
بررسي خواص ساختاري و مورفولوژي نانو لايه هاي مورب سولفيد روي
عنوان به زبان ديگر :
Investigation on structure and morphology properties of tilted ZnS nanolayers
پديدآورندگان :
ملا علي اشرفي مصطفي دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك , رضا قلي پور ديزجي حميد دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك , احساني محمدحسين دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك
كليدواژه :
نانو لايه هاي مورب سولفيد روي , خواص ساختاري , خواص مورفولوژي
سال انتشار :
بهمن 1393
عنوان كنفرانس :
دوازدهمين كنفرانس ماده چگال انجمن فيزيك ايران
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
در اين كار لايه هاي ستوني مورب سولفيد روي با كمك لايه نشاني مايل روي شيشه و به روش تبخير حرارتي در خلا در زاويه هاي مختلف رشد داده شدند. خواص ساختاري و ريخت شناسي نمونه ها با استفاده از آناليزهاي پراش پرتو ايكس، ميكروسكوپ الكترون روبشي و ميكروسكوپ نيروي اتمي بررسي شده است. آناليز ميكروسكوپ الكترون روبشي ساختار ستوني و مايل لايه ها را نشان مي دهد. آناليز ميكروسكوپ نيروي اتمي نشان مي دهد زاويه شار بخار تاثيرات چشمگيري روي ضخامت ستون ها و در نتيجه زبري سطح دارد. تحت ضخامت اسمي يكسان، ضخامت واقعي لايه هاي ستوني مورب به زاويه شار بخار وابسته است. با استفاده از الگوي پراش پرتو ايكس، تاثير زاويه شار بخار روي ثابت شبكه و حجم ياخته واحد مورد بررسي قرار گرفت
چكيده لاتين :
In this study, nano columnar structures of ZnS on glass substrates with various angle of growth, were fabricated. Structure and morphology properties of samples were studied using X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FESEM) and atomic force microscopy (AFM) techniques. The cross sectional scanning electron microscopy (FESEM) image illustrates a highly orientated microstructure composed of slanted columns. The atomic force microscopy (AFM) analysis reveals that incident flux angle had significant effects on the nodule size and surface roughness. Under identical nominal thickness, the actual thickness of the GLAD films is dependent on the incident flux angle. Using XRD pattern, the effect of flux angle on lattice constant and volume of unit cell were investigated.
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
4
از صفحه :
1
تا صفحه :
4
لينک به اين مدرک :
بازگشت