اندازه گيري نمايه باريكه استخراج شده از چشمه يوني پنينگ

Profile measurement of a beam extracted from a penning ion source

بوسيله يك نمايه سنج سيمي مجهز به هفت سيم و يك سامانه داده گير الكترونيكي شامل يك ميكروكنترولر AVR به طور همزمان نمايه عرضي باريكه هليوم استخراج شده از چشمه يوني پنينگ [1] اندازه گيري شد. نمايه عرضي براي پانزده ولتاژ استخراج در بازه 0 تا 6500 ولت اندازه گيري شد. با فرض گوسي بودن نمايه عرضي منحني هاي گوسي به داده هاي تجربي برازش داده شده و در نهايت وابستگي جريان و پهناي باريكه به ولتاژ استخراج بدست آمد. جريان تقريبا مستقل از ولتاژ استخراج بدست آمد، در حاليكه پهناي باريكه با ولتاژ استخراج كاهش مي يابد.

Using a grid consisting of seven wires the profile of an He beam delivered by a penning ion source was measured. An AVR microcontroller was used as the core of a data acquisition system which was capable of reading in signals from wires at the same time. The beam profile for fifteen extraction voltages ranging from 0 to 0000 volt was measured. A Gaussian was fitted to the experimental data for each extraction voltage. Finally, beam current and beam width for each extraction voltage was obtained. Beam current was found almost independent from extraction voltage, but beam width inversely depends on the extraction voltage.