شماره ركورد كنفرانس :
3308
عنوان مقاله :
اندازه گيري مغناطو مقاومت بزرگ در چند لايه اي هاي Ni - Co / Cu تهيه شده به روش الكتروانباشت
عنوان به زبان ديگر :
Measurement of Giant Magnetoresistance (GMR) in Ni-Co/Cu Multilayers Prepared by Electrodeposition Method
پديدآورندگان :
جعفري فشاركي مرجانه دانشگاه پيام نور - گروه فيزيك , صادقي زهرا دانشگاه صنعتي مالك اشتر - گروه نانوفيزيك , منوچهري سهراب دانشگاه صنعتي مالك اشتر - گروه نانوفيزيك , يوسفي محمدحسن دانشگاه صنعتي مالك اشتر - گروه نانوفيزيك
كليدواژه :
مغناطومقاومت بزرگ , چندلايه اي هاي Ni-Co/Cu , روش الكتروانباشت , در مد پتانسيواستات
سال انتشار :
شهريور 1394
عنوان كنفرانس :
كنفرانس فيزيك ايران ۱۳۹۴
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
در اين پژوهش، ابتدا چندلايه اي هاي Ni- Co / Cu به روش الكترو انباشت در مد پتانسيواستات تهيه شد. پس از آن مشخصه هاي مغناطو مقاومت چندلايه اي ها در دماي اتاق به عنوان تابعي از ضخامت لايه فرومغناطيس ( Ni -Co ) ولاية غير مغناطيس (Cu) بررسي شد و بيشينه مقدار مغناطو مقاومت بزرگ (GMR) براي چندلايه اي Ni - Co/Cu با ضخامت (dNi- co ( 3mm ) / dcu ( 3nm به دست آمد. در نهايت وابستگي دمايي مغناطش براي چندلايه اي هاي (dNi - co ( 3nm ) /dcu(3mm و (dNi - co ( 4rm ) / dcu(2nmبا استفاده از ترازوي فارادي اندازه گيري شد. كاهش مغناطش با دما بر اساس پراكندگي هاي الكتروني ناشي از افت و خيزهاي اسپيني مورد بحث قرار گرفت. بررسي هاي XRD نيز ساختار لايه مانند با ضخامت نانومتري را تأييد كرده است.
چكيده لاتين :
In this research, at first Ni-Co/Cu multilayers were prepared by electrodeposition method in potentiostat condition. Then magnetoresistance (MR) characteristics of multilayers were investigated at room temperature as a function of ferromagnetic (Ni-Co) and nonmagnetic (Cu) layer thickness and the maximum giant magnetoresistance (GMR) value was obtained for Ni-Co/Cu multilayer with dNi-Co(4 nm)/dCu(4 nm) thickness. Finally the temperature dependence of the magnetization for the multilayers: dNi-Co(3 nm)/dCu(3 nm) and dNi-Co(4 nm)/dCu(2 nm) were investigated by Faraday balance. Decreasing the magnetization with increasing the temperature discussed according to electron scattering due to spin fluctuation. The XRD investigation also confirmed the multilayered structure with the nanometer thickness.
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
4
از صفحه :
1
تا صفحه :
4
لينک به اين مدرک :
بازگشت