p160. مطالعه ابتدا به ساكن خواص ساختاري، ديناميكي و دي الكتريك Y2SiO5

First-principles study of structural, dynamical and dielectric properties of Y2SiO5

در اين مقاله به بررسي خواص ساختاري، ديناميكي و دي‌الكتريك اكسي‌سيليكات ايتريوم با استفاده از نظريه تابعي چگالي پرداخته‌ايم. پارامترهاي ساختاري بهينه شده توافق خيلي خوبي با داده‌هاي تجربي دارند. با استفاده از نظريه تابعي چگالي اختلالي فركانس مدهاي فونوني نقطه گاما، تانسور بار مؤثر بورن و ثابت دي‌الكتريك اپتيكي و استاتيك بررسي شده است. مشخص شده است كه ثابت دي‌الكتريك يوني در امتداد y از مدهاي فعال مادون قرمزAu ناشي مي-شوند در حاليكه مدهاي فعال مادون قرمز Bu مسئول ايجاد ثابت دي‌الكتريك يوني در امتدادهاي x و z هستند. مقدار بدست آمده براي ثابت دي‌الكتريك استاتيك تطابق خوبي با نتيجه تجربي دارد.

We have investigated the structural, dynamical and dielectric properties of Y2SiO5 within density-functional theory. The relaxed structural parameters are found to be in very good agreement with experimental data. The zone-center phonon frequencies, Born effective charge tensors and the dielectric permittivity tensors have been investigated, using density functional perturbation theory. It has been verified that the y-direction ionic dielectric constant arises from the infrared active Au modes, while infrared active Bu modes are responsible for x- and z-direction ionic dielectric constants. The obtained value of static dielectric constant is in good agreement with experimental result.