p490. مطالعه محاسباتي آناليز فلورسانس پرتوي ايكس براي نمونه هاي ناهموار با آشكارساز دوگانه

Computational study of non-flat objects by stereo-X-ray florescence

اين پژوهش به صورت محاسباتي در مورد ارزيابي در تجزيه و تحليل بهره فلورسانس اشعه ايكس ميكروسكوپيكي براي نمونه هاي ناهموار انجام شده است. در جاروب ميكروآناليزXRF، توزيع دقيق تر از غلظت عناصر به دست مي آيد. در اين روش براي آشكاسازي نقش ناهمواري نمونه در بهره ي پرتوي ايكس از فوتون فرودي به نمونه از دو آشكارساز هم زمان پرتوي ايكس در دوسوي باريكه استفاده مي كنيم. طيف اشعه ايكس حاصل از لوله اشعه ماوراء بنفش به صورت شبيه سازي براي يك نمونه فلزي ارائه شده است. تقارن در بهره ي پرتوي ايكس بدست آمده در دو آشكارساز ناشي از اختلاف جذب پرتوي مشخصه ايكس در ماده در راستاي آشكار سازها و به دليل ساختار ناهموار سطح نمونه مي باشد. بنابراين مي توان از اين كميت براي تعيين ناهمواري عنصري نمونه استفاده كرد و تحليل دقيق‌تر نتايج XRF استفاده كرد.

This research has been conducted on accounting assessment in the microscopic X-ray fluorescence analysis for irregular samples. In micro- XRF microanalysis, a more accurate distribution of the concentration of the elements could be obtained. In this approach, to reveal the effect of roughness of a sample in the yield of X-rays from the probing photon, simultaneously two X-ray detectors are used with respect to the beam direction. The X-ray fluorescence spectrum of ultraviolet ray tube was simulated for a metal sample. The amount of the disparity obtained in two X-ray detectors is due to the difference absorption in materials along the detectors and is the sign of the non-flat surface of the sample. Hence, this amount can be used to determine the elemental roughness of the sample.