مطالعه مورفولوژي سطح و ارائه يك روش جديد براي محاسبه طول همبستگي

Study of surface morphology and introducing a novel method to calculate correlation length

در اين مطالعه، دو عامل مهم در تعيين مورفولوژي سطوح در ابعاد نانو با استفاده از كد نويسي در نرم افزار MATLAB و پردازش تصوير ميكروسكوپ نيروي اتمي (AFM) اندازه گيري شده است. براي تعيين مورفولوژي سطح دو پارامتر انحراف از معيار پستي و بلندي نقاط مختلف (Rq) و طول همبستگي (correlation length) قله هاي سطح بسيار مهم هستند. به طور متداول از تابع خود همبستگي سطح براي محاسبه طول همبستگي استفاده مي #8204;شود. در اين مقاله روشي جديد براي محاسبه طول همبستگي سطح ارائه شده كه قابل مقايسه با روش متداول است.

In this study, morphology of nano-structured surface is measured by image processing of AFM (atomic force microscopy) images using a developed code (in MATLAB environment). For determination of surface morphology two parameters ; RMS roughness and correlation length, are important. In this article a novel method is introduced in which distance distribution function of neighbor peaks around a peak are considered for calculating the surface parameters. This method works well for estimation of surface correlation length and can compete with common technique in which autocorrelation function is used.