شماره ركورد كنفرانس :
5326
عنوان مقاله :
Evaluation of Analytical Models in Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy for High Spatial Resolution Spectroscopy
عنوان به زبان ديگر :
Evaluation of Analytical Models in Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy for High Spatial Resolution Spectroscopy
پديدآورندگان :
Khajavi Soheil University of Tehran , Eghrari Ali Faculty of Natural, Mathematical Engineering Sciences, King s College London, London, United Kingdom , Shaterzadeh-Yazdi Zahra University of Tehran , Neshat Mohammad University of Tehran
كليدواژه :
Atomic force microscopy , Scanning scattering near , field optical microscopy , Interferometry
عنوان كنفرانس :
بيست و نهمين كنفرانس اپتيك و فوتونيك ايران و پانزدهمين كنفرانس مهندسي و فناوري فوتونيك ايران
چكيده فارسي :
ميكروسكوپ نوري ميدان نزديك روبشي پراكندگي تكنيكي براي افزايش وضوح فضايي است و هنگامي كه توسط طيف‌سنجي تبديل فوريه تركيب مي‌شود، مي‌تواند اطلاعات طيف‌سنجي با وضوح فضايي بالا ارائه دهد. اين مقاله دو مدل تحليلي را براي سامانه با استفاده از نوك ميكروسكوپ نيروي اتمي و برهمكنش آن با يك ماده دي الكتريك را مطالعه مي‌كند. ما اعتبار اين مدل ها را با بازيابي طيف گذردهي يك ماده نمونه از طريق روش معكوس ارزيابي مي كنيم.
چكيده لاتين :
Scattering scanning near-field optical microscopy (s-SNOM) is a technique to enhance the spatial resolution, and when combined by Fourier transform spectroscopy it can provide spectroscopic information with high spatial resolution. This paper studies two analytical models for the s-SNOM probe using atomic force microscopy (AFM) tip and its interaction with a dielectric material. We evaluate the validity of these models by retrieving the permittivity spectrum of a sample material through an inverse method.
