شماره ركورد كنفرانس :
5332
عنوان مقاله :
شبيه سازي دقيق به روش المان محدود در طراحي و بهينه سازي موجبر استريپ سيليكوني
عنوان به زبان ديگر :
Rigorous simulation by finite element method in silicon strip waveguide design and optimization
پديدآورندگان :
صعودي ساسان S_soudi@yahoo.com استاديار،گروه مهندسي پزشكي، دانشكده فني و مهندسي، دانشگاه آزاد اسلامي واحد تهران مركزي، تهران، ايران/ عضو هيأت موسس، مركز تحقيقات ليزر و بيوفوتونيك در فناوريهاي زيستي، دانشگاه آزاد اسلامي واحد اصفهان (خوراسگان)
كليدواژه :
فرمول وردشي , روش المان محدود , نانو سيم سيليكوني , سيليكون بر روي عايق
عنوان كنفرانس :
اولين رويداد و همايش ملي علوم و فناوري هاي همگرا و فناوري هاي كوانتومي
چكيده فارسي :
در اين مقاله، يك روش دقيق و صحيح المان محدود (FEM) بر پايه رابطه وردشي برداري ميدان –H براي آناليز موجبرهاي اپتيكي براي دستيابي به يك آناليز موجبرسيليكوني استفاده شده است. مطالعه خصوصيات موجبر استريپ سيليكوني توسط بردار ميدان –H روش المان محدود صورت گرفته است. بعبارتي مشخصات نمايه هاي مختلف ميدان-H براي بررسي اندازه حدي چنين موجبرهاي مورد مطالعه قرار گرفته است. طراحي و بررسي خصوصيت موجبري شامل يك نانوسيم سيليكوني با تكنولوژي سيليكون بر روي عايق (SOI)انجام شده است.
چكيده لاتين :
In this paper, a rigorous, accurate and efficient Finite Element Method (FEM) based on vector H-field variational formulation has been implemented for the analysis of optical wave guides.This method has been employed with the exploitation of the accurate modal solutions obtained from the finite element method. The silicon strip waveguide has been studied deeply by the use of the vector H-field finite element method. The characteristics of the modal H-field profile will be studied in detail, in doing so the critical size of such waveguides can be determined. The design and investigation of the waveguide characteristics of a silicon nanowire with silicon-on-insulator (SOI) technology has been studied.