اثر دماي زير لايه روي خواص ساختاري و مورفولوژي سطح لايه هاي نازك تلوريد كادميم

لایه نازك تلورید كادمیم با استفاده از روش تبخیر حرارتی روی زیر لایه شیشه با ضخامت تقریبی 650nm تهیه شدند. در این پژوهش ، اثر دمای زیر لایه روی خواص ساختاری و مورفولوژی سطح نمونه ها مورد مطالعه قرار گرفت. آنالیزهای ساختاری با استفاده از تحلیل پراش اشعه ایكس ( XRD) و بررسی مورفولوژی سطح نیز با میكروسكوپ الكترونی رویشی اثر میدان (FESEM) انجام شد. محاسبه پارامترهای ساختاری آشكار نمود كه اندازه بلوركها با افزایش دمای زیر لایه بزرگتر شد. همچنین مشاهده گردید كه كیفیت بلوری لایه ها با افزایش دمای زیر لایه بهبود یافت.

The cadmium telluride thin films with approximate thickness of 650 nm were deposited on glass substrate by vacuum thermal evaporation technique. In the present investigation, the effect of substrate temperature on the structural properties of the prepared Samples has been studied. The structural analysis was carried out by x-ray diffraction (XRD) and field effect Scanning electron microscopy (FESEM) techniques. Calculation of structural parameters revealed the increase of the crystallite size upon increasing the substrate temperature. It was also observed that the layersʹ crystallinity improved due to the increase in substrate temperature