بررسي اثر دماي زيرلايه و آلايش قلع بر روي خواص ساختاري و نوري لايه نازك سولفيد روي تهيه شده به روش اسپري پايروليزيز

لایه های نازك سولفید روی (ZiS) و سولفید روی آلابیده به قلع (Wii S:Srb و Z) با نسبت اتمی قلع به روی {x = {Si}/{Zi در مقادیره٪-۰ % - ۵ % و ۲۰% در محلول اولیه، به رو شر اسپری پیروانیریز بر روی بستر شیشهای تهیه شدند. پرای بررسی اثر دمای پستتر بر روی ساختار نمونه ها، لایه های نازك سولفید روی ZBS در دور دمای بسترC ۰ به ۶ و ۰°C هه تهیه شدند. آنالیز پراشر پرتو k تشكیل ساختار ششر گوشی سولفید روی را در لایه های تهیه شده در دمای بستر ۵۰C به نشان داد. در نمونه های S۶: لاZh، فار چهارگوشی SiO2 برای همه نمونه های آلاینده با قلع مشاهده شد. بررسی تصاویر 4FM محمد بیانگر افزایشر اندازه متوسط دانه ها با افزایشر درصد آلایشر قلع می باشد. بررسی نتایج طییم سنجی UV- VIS-NIR نشان دهنده میزان عبوری در گستره ۰% ۲۰% برای لایه های (Zi SSB) می باشد. ممچنین مقدار گاف نواری در این نمونه ما در گسترهای Wی ۲۶۵۹ - ۲۶۰۳ بدست آمد.

Zinc Sulfide (ZnS) and tin-doped ZnS (ZnS:Sn) thin films were prepared by spray pyrolysis technique on glass substrates. The zinc to tin atomic ratios (X-FISnI/IZn() in the initial Solution varied from 5 to 20%. X-ray diffraction analysis described the formation of wurtzite ZnS phase in films deposited at 550C. The tetragonal phase of SnO2 was identified in all ZnS:Sn films deposited at 5500C. The results of AFM images described the increase of the mean grain size with increasing the dopant concentration. Using the UV-Vis-NIR spectroscopy, the transmittance varied in the range of 20-60% was found for the ZnS: Sn thin films. The band gap values were also obtained in the range of 3.03-3.59 eV.