شماره ركورد :
1014238
عنوان مقاله :
تأثير فشار اكسيژن بر ساختار، هدايت الكتريكي و نفوذپذيري اكسيژن لايه هاي نازك Ba0/5Sr0/5Co0/8Fe0/2O3-δ ساخته شده با لايه نشاني ليزر پالسي
عنوان به زبان ديگر :
The effect of oxygen pressure on structure, electrical conductivity and oxygen permeability of Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ thin films by pulsed laser deposition
پديد آورندگان :
دانشمندي، سميرا دانشگاه صنعتي اصفهان - دانشكدة فيزيك , سهرابي، پريسا دانشگاه صنعتي اصفهان - دانشكدة فيزيك , رنجبر، مهدي دانشگاه صنعتي اصفهان - دانشكدة فيزيك , سلامتي، هادي دانشگاه صنعتي اصفهان - دانشكدة فيزيك
تعداد صفحه :
7
از صفحه :
57
تا صفحه :
63
كليدواژه :
پيل سوختي اكسيد جامد , كاتد , لاية نازك , لايه نشاني ليزر پالسي
چكيده فارسي :
در اين مقاله، لايه ­ هاي نازك (Ba0/5Sr0/5Co0/8Fe0/2O3-δ (BSCF روي زير لايه 3 (STO) SrTiO (100) به روش لايه نشاني ليزر پالسي ( PLD ) در فشارهاي مختلف اكسيژن لايه نشاني شد. براي تهيه لايه ‌هاي نازك، از نانو ذرات پودر BSCF كه با روش سل-ژل با هدف كاربرد در ساخت كاتد پيل سوختي اكسيد جامد تهيه شدند، استفاده شد. ساختار بلوري نمونه ­ ها­ توسط پراش پرتو X ، (XRD) مطالعه شد. نتايج XRD نشان دهنده ساختار مكعبي براي نمونه حجمي و لايه­ هاي نازك بود. مورفولوژي سطح لايه ­ها توسط ميكروسكوپ نيروي اتمي ( AFM ) بررسي شد كه بيانگر افزايش زبري سطح (RMS) نمونه­ ها با افزايش فشار اكسيژن بود. اندازه گيري مقاومت الكتريكي به روش چهار نقطه­اي براي نمونه حجمي و لايه ­هاي نازك، به ترتيب از دماي اتاق تا دماي 600 º C و 800 º C در هوا انجام شد. با افزايش دما تا 400 ºC ، افت شديد مقاومت نسبت به مقدار اوليه مشاهده شد كه توسط مدل جهش پلارون­ هاي كوچك قابل توجيه مي­ باشد. انرژي فعال سازي جهش پلاروني از طريق معادله آرنيو س محاسبه شد. همچنين ضريب تبادل سطحي ( Kchem ) لايه نازك BSCF به روش واهلش رسانندگي الكتريكي در چهار دماي مختلف اندازه­گيري شد. نتايج حاصل وجود يك رابطه خطي بين Kchem و معكوس دماي مطلق را پيشنهاد مي­ دهد.
چكيده لاتين :
In this paper, Ba0.5Sr0.5Co0.8Fe0.2O3-δ (BSCF) thin films were deposited on single crystal SrTiO3 (STO) (100) by pulsed laser deposition (PLD) technique at different pressures of oxygen. Crystal structure of bulk and thin film samples was studied by x-ray diffraction (XRD). The XRD results indicate that both bulk and thin film samples have cubic structures. AFM micrographs showed an increase in RMS roughness by oxygen pressure. The electrical resistance was measured at room temperature up to 600 and 800 °C in air using four probe method for bulk and thin films, respectively. A sharp drop in resistance was observed by increasing temperature up to 400 °C, that was explained with the small polaron hopping model. Polaron activation energy was calculated by Arrhenius relation. It was decreased over increasing oxygen pressure. The surface exchange coefficient (Kchem) of the 300 mTorr sample was measured by electrical conductivity relaxation (ECR) technique. The results suggested a linear relationship between Kchem and reciprocal of absolute temperature.
سال انتشار :
1392
عنوان نشريه :
پژوهش فيزيك ايران
فايل PDF :
7495333
عنوان نشريه :
پژوهش فيزيك ايران
لينک به اين مدرک :
بازگشت