مشخصه سنجي تابش EUVو ايكس نرم از پلاسماي توليد شده در ميدان ليزر نانوثانيه بوسيله آشكار ساز ديود نوري AXUV

نتايج تجربي بدست آمده از تابش ايكس نرم (SXR) و فرابنفش قوي يا EUV extreme ultraviolet)) بوسيله آشكارساز ديود نوري AXUV (absolute extreme ultraviolet) حاصل از برهمكنش ميدان ليزر نانوثانيه براي اولين بار در ايران مورد بررسي و تحليل قرار گرفته اند. تابش فرابنفش قوي و ايكس نرم از پلاسماي توليد شده با هدف فلزي استيل - 316، گسيل مي گردد. سامانه ليزري پالسي با انرژي 250 ميلي ژول، با پهناي زماني 10- 30 نانوثانيه در طول موج 1064 نانومتر توليد مي كند. نتايج در محدوده طول موج تابشي يك رابطه خطي بين انرژي پالس ليزر و انرژي تابش از پلاسما را نشان مي دهد. پالس هاي تابش پلاسما در اين محدوده با قله مشخص و بلند در سيگنال حاصل از آشكار ساز AXUV با پهناي زماني حدود 15 نانوثانيه و با تاخير حدود 20 نانوثانيه نسبت به پالس ليزر مشاهده و ثبت گرديد. همچنين ميانگين بازدهي تبديل انژي ليزر به تابش پلاسما در گستره بينابي ايكس نرم و فرابنفش قوي حدود 2/5 % محاسبه شده است.

Using AXUV (absolute extreme ultraviolet) photodiode, experimental results obtained for soft X-ray and EUV emission are presented. Plasma produced by nanosecond laser pulse laser system is applied with maximum energy of 250 mJ, pulse durations, 10-30 ns and wavelength, 1064 nm under interaction with steel-316 target. The energy of soft X-ray is observed to be approximately linearly proportional to the laser pulse energy. The soft X-ray and EUV emissions with specific signal was detected by AXUV photodiode with durations of about 15 ns and time delay about 20 ns relative to the laser pulse. The average energy conversion efficiency emission was determined to be about 2.5%.