بررسي اثر دما، رطوبت و نانوذره سيليس بر ريخت شناسي و تخلخل سطحي الياف پلي استايرن الكتروريسي شده

الكتروريسي فرايندي است كه با استفاده از نيروي الكترو استاتيكي، از محلول يا مذاب پليمري، الياف پليمري در اندازه هاي نانو و ميكرو توليد مي‌كند. در اين پژوهش الياف پلي استايرني با استفاده از محلول پلي استايرن در حلال دي متيل فرم آميد در شرايط گوناگون دمايي (°C 45-25)، رطوبت (70-30 %) و مقدارهاي گوناگون نانو ذره­ هاي سيليس (w%4-0 ) ريسيده شد. به منظور ايجاد شرايط محيطي (دما و رطوبت) زمان فرايند الكتروريسي، محفظه اي كه قابليت كنترل دما و رطوبت را دارا مي ­باشد، ساخته شد. براي بررسي اثر متغيرهاي دما، رطوبت و مقدار ذره­هاي سيليس، طراحي آزمايش انجام شد. به منظور بررسي ساختار بستر و سطح الياف پلي­استايرني از تصويرهاي دستگاه ميكروسكوپ الكتروني روبشي استفاده شد. نتيجه ­هاي به دست آمده نشان داد كه با افزايش هر يك از متغيرهاي دما، رطوبت و ميزان نانو ذره­ هاي سيليس ساختار بستر الياف از الياف دانه داربه الياف بدون دانه تغيير مي­ يابد. ايجاد نانو تخلخل روي سطح الياف پلي استايرني با تغيير متغيرهاي ياد شده ديده شده است. نتيجه­ هاي به دست آمده از تصويرهاي دستگاه ميكروسكوپي الكترون روبشي نشان داد كه تعداد و تراكم نانو حفره‌هاي ناشي از جدايش فازي موجود در سطح پليمري الياف پلي استايرني، با افزايش رطوبت، دما و مقدار نانو ذره­ هاي سيليس كاهش يافته است.