شماره ركورد :
1289042
عنوان مقاله :
استنباط آماري در مورد آزمون عمر شتابيده براي دستگاه يك‌بار شليك با ريسك رقابتي
عنوان به زبان ديگر :
Inference on Accelerated Life Testing for One-Shot Device with Competing Risks
پديد آورندگان :
حكمي‌پور، نوشين مركز آموزش عالي فني و مهندسي بوئين زهرا - گروه رياضي
تعداد صفحه :
22
از صفحه :
285
از صفحه (ادامه) :
0
تا صفحه :
306
تا صفحه(ادامه) :
0
كليدواژه :
الگوريتم EM , براورد امتيازدهي فيشر , دستگاه يك‌بار شليك , ريسك‌هاي رقابتي , دلايل خرابي پوشانده شده
چكيده فارسي :
اين مقاله به مدل‌سازي و تجزيه و تحليل مدل ريسك‌هاي رقابتي براي دستگاه يك‌بار شليك، تحت آزمون عمر شتابيده تنش ثابت مي‌پردازد. در تجزيه و تحليل قابليت اطمينان يك دستگاه مهم است، بتوانيم علل اصلي خرابي را شناسايي كنيم. بنابراين مدل ريسك رقابتي مورد استفاده قرار مي‌گيرد. ما مدل ريسك رقابتي را در دو حالت مشاهده دليل خرابي و دليل خرابي پوشانده شده، در نظر مي‌گيريم. داده‌هاي به‌دست‌آمده از آزمايش دستگاه يك‌بار شليك، مفقود شده‌اند. از اين‌رو، الگوريتمEM به همراه روش امتيازدهي فيشر براي براورد پارامترهاي مدل استفاده مي‌شوند. همچنين، براي كم‌كردن زمان و هزينه، آزمون عمر شتابيده استفاده مي‌شود. به علاوه، در انتها به منظور براورد دقيق قابليت اطمينان محصول، طرح آزمون بهينه مي‌شود. با توجه به داده‌هاي شبيه‌سازي شده، نتيجه مي‌گيريم كه الگوريتم EM و فاصله اطمينان بوت استرپ روش‌هاي مناسبي براي براورد هستند. به علاوه، كوتاه شدن مدت آزمون منجر به دستيابي به طرح آزمون بهينه مي‌شود.
چكيده لاتين :
This article deals with modelling and analysis of the competing risks for a one-shot device under a constant stress accelerated life test. In a reliability analysis of a device, it is important to be able to identify the main causes of failure. Therefore, a competing risk model is generally used. We consider this model in two modes: observed and masked causes of failure. The data obtained from one-shot device testing are missing in fact. For this reason, the EM algorithm along with the Fisher scoring method are used to estimate the model parameters. An accelerated life test is also used to shorten the time and cost. In addition, in order to accurately estimate the product reliability, the test design is finally optimized. Based on the simulated study, it is concluded that the EM algorithm and the bootstrap confidence interval are more accurate than the other methods. Also, shortening the test length leads to achieve an optimal test design.
سال انتشار :
1400
عنوان نشريه :
مهندسي و مديريت كيفيت
فايل PDF :
8688628
لينک به اين مدرک :
بازگشت