بررسي مدهاي فونوني نوري و شاخص شايستگي نانوصفحات اكسيد گرافن جهت كاربرد در دستگاه‌هاي سوئيچينگ نوري

براي مشخصه يابي ساختار نانوصفحات اكسيد گرافن، از آناليز پراش پرتو ايكس (XRD)، ميكروسكوپ الكتروني - عبوري (TEM)، و طيف سنجي رامان و فروسرخ تبديل فوريه (FTIR) استفاده شده است. نتايج، نشان دهنده وجود لايه هاي نازك اكسيد گرافن است كه داراي ساختار كريستالي مناسب با پيك حدود 10 درجه و نسبت ID/IG حدود 0.99 است. همچنين، با استفاده از روابط كرامرزكرونيگ و به دست آوردن ضريب شكست، ضريب خاموشي و ضرايب دي الكتريك آنها با آناليز طيف سنجي فروسرخ تبديل فوريه (FTIR)، مدهاي فونوني نوري، طولي و عرضي، براي اين ماده محاسبه شد. سپس، ويژگي هاي نوري غيرخطي با استفاده از روش جاروب Z تك پرتو با استفاده از ليزر Nd:YAG پيوسته با طول موج 532 نانومتر به دست آمد. نتايج جاروب Z  نشان مي دهد كه نانوصفحات اكسيد گرافن داراي پديده خود همگرايي و جذب دوفوتوني است. همچنين، يك شاخص شايستگي (FOM) مناسب با اين نانوصفحات به دست آمد.