عنوان مقاله :
مقدمه‌اي بر روش تحليلي پراش الكترون‌هاي به عقب رانده شده (EBSD)
عنوان فرعي :
An Introduction to Electron Backscattered Diffraction (EBSD) Method
پديد آورندگان :
عباسي، مهرداد نويسنده دانشكده مهندسي مواد، دانشگاه صنعتي اصفهان، اصفهان، ايران. , , عباسي، مجيد نويسنده پسادكترا، دانشكده مهندسي مكانيك، دانشگاه بريگام يانگ، ايالت يوتا- آمريكا، در گذشته: پژوهشگر همكار در شركت ايدكس - تي اس ال، ايالت يوتا- آمريكا. ,
اطلاعات موجودي :
فصلنامه سال 1392 شماره 11
كليدواژه :
بررسي كمي ريزساختار , پراش الكترون‌هاي به عقب رانده شده(EBSD) , تصويربرداري جهتي(OIM) , اختلاف جهتي
چكيده فارسي :
در اين نوشتار مقدمه اي بر روش كارآمد و در حال تكامل (EBSD) Electron Backscattered Diffraction ارايه مي‌شود. روش پراش الكترون‌هاي به عقب رانده شده(EBSD) توانايي‌هاي قابل‌توجهي در بررسي‌كمي و كيفي ريزساختار دارد. توسعه EBSDبتازگي مورد توجه وسيع صنايع و مراكز پژوهشي قرار گرفته، به گونه‌اي‌كه به روش اصلي بررسي ريزساختار در بسياري از اين مراكز تبديل شده است. اين روش در محاسبه جهات بلوري ريزساختارها (Nano and Microstructures)، تشخيص فاز و ميزان توزيع فازها كاربرد دارد. شواهد اوليهEBSD در سال 1928 در ميكروسكوپ الكترون عبوري(TEM) ديده شد و تا به امروز پيشرفت‌هاي شاياني در بهبود تصوير و استخراج داده‌ها صورت گرفته است. از آن جمله مي‌توان به توسعه سخت افزار، تهيه نرم افزارها، ابداع روش‌هاي مشاهده تصوير و كميت‌سازي ريزساختار اشاره كرد. اصول،تاريخچه،كاربردها و چندين مثال كاربردي ازEBSDد در اين نوشتار ارايه مي‌شوند.
اطلاعات موجودي :
فصلنامه با شماره پیاپی 11 سال 1392
كلمات كليدي :
#تست#آزمون###امتحان
