مطالعه مقايسه اي خواص ساختاري فيلم هاي نازك اكسيد روي، تهيه شده با روش سل- ژل

Comparative study of structural properties of ZnO thin films prepared by different sol-gel route

فيلم هاي نازك اكسيد روي با استفاده از زينك استات دي هيدرات به عنوان پيش ماده اصلي و با استفاده از روش سل- ژل و به كارگيري تكنيك هاي فروكشي و غوطه وري تهيه شده اند. 4 روش متفاوت تهيه سل و هم چنين تكنيك هاي پوشش براي تهيه فيلم ها به كار برده شده است. مورفولوژي و خواص ساختاري فيلم هاي نازك تهيه شده با روش سل- ژل با توجه به روش تهيه سل و تكنيك هاي رسوب گذاري فروكشي و غوطه وري مطالعه شده است. ريزساختار فيلم هاي نازك اكسيد روي و پودرها توسط پراش سنج اشعه ايكس آناليز شده است. فيلم هاي نازك اكسيد روي تهيه شده در اين مطالعه، آمورف مي باشند در حالي كه پودرها داراي ساختار پلي كريستالي به همراه پيك هاي پراش متفاوت اند كه در نمونه هاي پراش اشعه ايكس آن ها ديده مي شود. مورفولوژي فيلم با استفاده از تصاوير ميكروسكوپ الكترون روبشي بررسي شده است. مورفولوژي سطحي فيلم-هاي نازك اكسيد روي، قويا به روش تهيه و تكنيك رسوب گذاري وابسته است. طيف هاي فوتولومينانس فيلم هاي نازك اكسيد روي، گسيل هاي باند كناره اي و زير باندي را در حوالي 465 نانومتر نشان مي دهند.

The ZnO thin films were prepared from zinc acetate dihydrate as main precursor by using sol-gel method and deposited by drainage and dip coating technique. Four different routes and coating techniques were used for the preparation of samples. The morphology and structural properties of the sol-gel made ZnO thin films were studied with respect to the preparation of sol-gel route, drainage and dip coating technique. The microstructure of the ZnO thin films and the powders were analyzed by X-ray diffraction. The ZnO thin films prepared in this study were amorphous while its powders were polycrystalline with various diffraction peaks in the X-ray diffraction patterns. The morphology of the film was examined by using scanning electron microscopy. The surface morphology of the ZnO thin films strongly depends on preparation route and deposition technique.